ITC57300 MOS管動態(tài)參數(shù)測試儀是美國ITC公司設(shè)計生產(chǎn)的高集成度功率半導體分立器件動態(tài)參數(shù)測試設(shè)備，采用測試主機+功能測試頭+個性板的測試架構(gòu)，可以滿足N溝道、P溝道器件、雙極晶體管等的各項動態(tài)參數(shù)的測試要求，且具有波形實時顯示分析功能，是目前完備可靠的動態(tài)參數(shù)測試設(shè)備。

MOS管動態(tài)參數(shù)測試儀

主要測試能力

1.測試電壓：1200 VDC 200（短路電流可達1000A）

2.定時測量：為1 ns

3.漏電流限制監(jiān)視器

4.MOSFET開關(guān)時間測試， Max VDD =1.2KV,0.1V Steps 

5.MOSFET,Diodes Qrr/Trr反向恢復時間測試，Max VDD=1.2KV, 0.1V Steps

6.Qrr range：1nc~100uc，Trr range：10ns~2us

7.MOSFET柵電荷Qg測試，Max VDD =1.2KV,0.1V Steps 

8.IGBT感性開關(guān)時間測試，Max VDD =1.2KV,0.1V Steps，Inductors range：0.1mH~159.9mH

9.IGBT短路耐量測試，Max ISC=1000A

測試標準

MIL-STD-750 Series

MOS管動態(tài)參數(shù)測試儀選項

1.額外的電源供應(yīng)器

2.額外的測試頭

3.大包裝適配器

測試儀測試頭

1.ITC57210 - N-通道和P-通道功率MOSFET，MIL-STD-750方法3472開關(guān)時間

2.ITC57220 - TRR /電源，MOSFET和二極管的Qrr，MIL-STD-750方法，3473

3.ITC57230 - 柵極電荷功率MOSFET，MIL-STD-750方法3471

4.ITC57240 - 電感式開關(guān)時間為IGBT，MIL-STD 750方法3477

5.ITC57250 - （ISC）短路耐受時間，MIL-STD-750方法3479

ITC57210 開關(guān)時間測試頭

此測試頭以美軍標 MIL-STD-750, Method 3472，驗證功率器件MOSFETs,P溝道和N溝道的開關(guān)時間。所測量的參數(shù)包括 ：Time Delay On[td(on)],Rise Time(tr),Time Delay Off [td(off)],Fall Time(tf)

ITC57230 柵電荷測試頭

ITC57230對功率器件MOSFETs的柵電荷能力以美軍標MIL-STD-750, Method 3471進行考驗。 先給MOSFET管的柵極加電壓，在柵極打開時，把一個恒電流，高阻抗的負載接到MOSFTE管的漏極。當漏極電流攀爬到用戶設(shè)定的數(shù)值時，被測器件的柵電荷可通過向漏極導通可編程恒流源放（或P溝道器件，向源極導通）。通過監(jiān)視柵電壓和波形下各部分的面積便可計算出電荷量。

ITC57250 短路耐量測試頭

ITC57250以美軍標MIL-STD-750, Method 3479的定義，實行短路耐抗時間測試。在某些電路，如馬達驅(qū)動電路，半導體器件須有能力抗衡并頂住短時間的短路狀況。此測試就是用于驗證器件在短路情況下所能承受的耐抗時間。器件內(nèi)的電流是取決于器件的放大值(gain)和所使用的驅(qū)動脈寬。